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半导体特性分析系统
4200-SCS
半导体特性分析系统4200-SCS,集成前沿的脉冲能力和精密DC测量,用于65nm节点及更小尺寸
太阳能电池片串并联模拟器
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6144 6161 6240 6241A 6242 6243 6244 6245 6246
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太陽光模擬器
XES-301S
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S-9000太陽光分光放射計
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Q8341 光譜分析儀
Q8341
Q8341 光譜分析儀,Q8341是一台针对短波长激光二极管的光谱分析仪,波长测量范围从350到1000nm。它采用了傅立叶变换干涉仪,当安装了高速扫描选件后,测试速度达到0.5s是世 界上最快的,它大大提高了短波长激光二极管的产能。 光器件的准确设计以控制光输出和光反射是十分重要的。Q8341的相干分辨0.001mm,这使得Q8341成为研究下一代激光二极管的最好的选择。
TES-1333/1333R 太阳能功率表
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PROVA 200 太阳能电池分析仪
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PROVA 200太阳能电池分析仪,单晶片I-V特性曲线测试
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